安徽黄山祁门adw300化工智能配电系统作者:安科瑞电气工程师冯东铖
安徽黄山祁门
半导体生产流程由晶圆制造,晶圆测试,芯片封装和封装后测试组成,晶圆制造和芯片封装讨论较多,而测试环节的相关知识经常被边缘化,下面集中介绍集成电路芯片测试的相关内容,主要集中在WAT,CP和FT三个环节。集成电路设计、制造、封装流程示意图WAT(WaferAcceptanceTest)测试,也叫PCM(ProcessControlMonitoring),对Wafer划片槽(ScribeLine)测试键(TestKey)的测试,通过电性参数来监控各步工艺是否正常和稳定,CMOS的电容,电阻,Contact,metalLine等,一般在wafer完成制程前,是Wafer从Fab厂出货到封测厂的依据,测试方法是用ProbeCard扎在TestKey的metalPad上,ProbeCard另一端接在WAT测试机台上,由WATRecipe自动控制测试位置和内容,测完某条TestKey后,ProbeCard会自动移到下一条TestKey,直到整片Wafer测试完成。
监测电力消费:用户可以通过读电表,及时了解家庭或企业的电力使用情况,从而优化用电策略,减少电费开支。
促进节能减排:的电表数据可以帮助用户识别用电高峰时段,促使用户在适当的时间段内用电,从而达到节能的目的。
便于电力管理:对于电力公司而言,电表能有效地管理和规划电力资源,提高供电的效率和可靠性。
adw300电表是现代电力管理的核心组件,关系到每一个家庭及企业的用电安全和经济利益。安科瑞电气股份有限公司致力于为用户提供的电表解决方案,助力用户实现智能用电、节能减排的目标。通过更深入的了解电表的工作原理、种类和市场动态,用户不仅能提高用电效率,还能为可持续发展贡献一份力量。选择安科瑞电气,让您的用电管理更智能,生活更美好。